Pal A., Thareja G., Dag S., Costrini G., Reddy V., Xu Y., Lei Y., Zhang A., Shen G.,
Jansen A., Chen Z., Gage M., Tang J., Yang Y.-C., Deshpande S., Huey S., Hung R.,
Jiang H., Cai M.-P., Abramovitz Y., Engel L., Naik M., Wang R., Kesapragada S., Ayyagari-Sangamalli
B., Tang X., Bazizi E. M., Proc. Int. Electron Devices Meet. (IEDM), 294, IEEE (2022)
